Florida [material cartográfico] Instituto Geográfico Militar.
Descripción
Mapa actualizado por métodos foto-planimétricos con fotografías tomadas en 1997-1998. Actualización sin comprobación de campo. La conversión de coordenadas PSAD56-69 a SIRGAS fue calculada con parámetros IGM.
Autor(es)
Instituto Geográfico Militar (Chile)
Tipo de acceso
Acceso en Biblioteca Nacional
Tipo
Material cartográfico
Datos de Publicación
Santiago : Instituto Geográfico Militar, 2019. Chile : IGM, 01-2019.
Descripción Física
1 mapa : color ; 56 x 45 cm, en hoja 86 x 62 cm.
Notas
General
Datos técnicos: Elevación en metros: intervalo de curvas 50 metros -- Sistema de referencia: SIRGAS (WGS84) -- Elipsoide: GRS80 -- Datum geocéntrico: ITRF 2000 -- Datum vertical: nivel medio del mar.
Resumen
Mapa actualizado por métodos foto-planimétricos con fotografías tomadas en 1997-1998. Actualización sin comprobación de campo. La conversión de coordenadas PSAD56-69 a SIRGAS fue calculada con parámetros IGM.
Cobertura geográfica
Ubicada en: provincias de Concepción, Biobío y Diguillín, cubre un sector de las comunas de Florida, Hualqui, Quillón, Yumbel y Cabrero. Algunas características geográficas relevantes: Pueblo de Florida, Lugar Florida Alto, Caserío Tomeco, Río Claro, Estero Retamo, Estero Florida, Estero Paso Ancho, Estero Pachagua, Estero Panquilco, Cerro El Cardon, Cerro Piedra Parada, Cerro Los Boldos de Provoquí.
Forma física adicional disponible
Disponible en formato digital.
Reproducción
Reproducción electrónica. Santiago, Chile : Biblioteca Nacional de Chile, Laboratorio Digital, 2019. Objeto digital: MP0001093
Términos de uso y reproducción
Acceso en Biblioteca Nacional, con restricción de reproducción; Comunicarse con Instituto Geográfico Militar (IGM).
Idioma
Textos en español e inglés.
Complejidad del enlace
Otras ediciones.
Referencia Bibliográfica
Florida [material cartográfico] / Instituto Geográfico Militar. Santiago : Instituto Geográfico Militar, 2019. Chile : IGM, 01-2019. 1 mapa : color ; 56 x 45 cm, en hoja 86 x 62 cm. .